@InProceedings{SuelaAbrRapCloBos:2010:CRCACA,
               author = "Suela, Jefferson and Abramof, Eduardo and Rappl, Paulo Henrique de 
                         Oliveira and Closs, Huberto and Boschetti, C{\'e}sar",
          affiliation = "{Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto 
                         Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto Nacional de 
                         Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto Nacional de Pesquisas 
                         Espaciais (INPE)} and {Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais 
                         (INPE)}",
                title = "CRESCIMENTO E CARACTERIZA{\C{C}}{\~A}O DE CAMADAS EPITAXIAIS DE 
                         CaF2 SOBRE Si(111) PARA APLICA{\C{C}}{\~A}O EM DISPOSITIVOS 
                         OPTOELETR{\^O}NICOS DE PbTe",
            booktitle = "Anais...",
                 year = "2010",
         organization = "Workshop em Engenharia e Tecnologia Espaciais, 1. (WETE).",
            publisher = "INPE",
              address = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos",
             keywords = "CaF2, AFM, RHEED, MBE.",
             abstract = "Neste trabalho ser{\~a}o apresentados os resultados do 
                         crescimento e caracteriza{\c{c}}{\~a}o morfol{\'o}gica de 
                         camadas de CaF2 crescidas sobre Si(111) que servir{\'a} de camada 
                         intermedi{\'a}ria para o posterior crescimento de camadas 
                         eptaxiais de PbTe sobre o Si(111). O CaF2 foi crescido pela 
                         t{\'e}cnica de MBE (Molecular Beam Eptaxy - Epitaxia de Feixe 
                         Molecular) e a caracteriza{\c{c}}{\~a}o morfol{\'o}gica da 
                         superf{\'{\i}}cie consistiu de uma etapa in situ feita pela 
                         t{\'e}cnica RHEED (Reflection High Energy Electron Diffraction 
                         Difra{\c{c}}{\~a}o de el{\'e}trons de alta energia, emergentes 
                         de reflex{\~a}o rasante) e uma etapa ex situ por AFM (At{\^o}mic 
                         force Microscopy Microscopia de For{\c{c}}a At{\^o}mica). Dos 
                         resultados obtidos, foi poss{\'{\i}}vel determinar para qual 
                         temperatura de substrato durante o crescimento, obtemos filmes 
                         menos rugosos, mais adequados para o posterior crescimento do 
                         PbTe.",
  conference-location = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos",
      conference-year = "30 mar. - 1 abr. 2010",
                 issn = "2177-3114",
                label = "lattes: 2086547470164107 1 SuelaAbrRapCloBos:2010:CRCACA",
             language = "pt",
                  ibi = "J8LNKAN8RW/37NR893",
                  url = "http://urlib.net/ibi/J8LNKAN8RW/37NR893",
           targetfile = "CMS_fismat_1011-pt.pdf",
                  url = "http://www.inpe.br/iwete/",
               volume = "IWETE2010-1011",
        urlaccessdate = "14 maio 2024"
}